美國國家（jiā）儀器有限公（gōng）司（National Instruments，簡（jiǎn）稱NI）於4月13日發布了《2010自動化測（cè）試前景報告》，就創新技術對當（dāng）今測試測量應用的（de）影響發表了研究結果。報告涵蓋了通（tōng）信、國防（fáng）航空、半（bàn）導體、汽車和消費電子（zǐ）等眾（zhòng）多產業，力圖幫助工程師和管理者了解自動化測試領域的最新發展趨勢及其影（yǐng）響。

      NI通過與眾多涉及不同領域的公司進行交流，對技術發展趨勢進行了廣泛的研究，從獨（dú）特的視角觀察測試測量市場。《2010自動化測試前景（jǐng）報告》結（jié）合了學術（shù）研究、商業谘（zī）詢、用戶調查、在線論壇、客戶反饋和區域銷售代表討論的結果。以此數據為基礎，該（gāi）報告闡述了未來測試測量趨勢以及如何應對測試測量行業所麵臨的市場挑戰與技術挑戰（zhàn）。

      《2010自動化測試前景報告（gào）》從五個角度出發進行闡述：這五（wǔ）個角（jiǎo）度（dù）分別是商業策（cè）略、構架、計算、軟件和（hé）硬（yìng）件I/O。報告在每一類中詳細闡述了影響測試測量行業的（de）發（fā）展趨勢、方法或技術。報告談論（lùn）了以下五個主題：

? 標準化：開發通用的平台（tái），降低成本，在產品的整個（gè）生命周期中可重複利用測試係統
? 多通道RF測試：測試下一代無線設備需要一個從信號層麵到軟件層麵的並行測試（shì）架構
? Peer-to-Peer計（jì）算：越來（lái）越複雜的測試要求（qiú）需（xū）要更高的性能和點對（duì）點計算構架（jià）
? 嵌入式設計與測試：通過實時測試軟件，工程師可以在測試階段複用他們在產品開發過程中（zhōng）建立的嵌入式（shì）係統模型
? 可重配置的儀器：基於FPGA的儀器（qì）通過引入硬件級的（de）自定義特性，進一步提高了（le）性（xìng）能和靈活性

敬請訪問www.ni.com/ato，查看《2010 自（zì）動化測試前景報告》。報告中文版將於近期推出，敬請關（guān）注。

此外，第七屆PXI技術和應用論壇將於今年5月28日在深（shēn）圳召開，欲了解更多自（zì）動化測（cè）試相關信息，可登陸http://www.epc.com.cn/pxitac2010/進行報名。