近日,2019年度國家航空(kōng)科學基金項目評審結果公布,上海院機械製造所雷李華博士申報的“大範圍表麵形貌測量白光場掃(sǎo)描技術(shù)研究”獲立(lì)項資助,這是該院首次獲批國家(jiā)航空科學基金實驗室類項目。
國家航空科(kē)學基金創立於1985年,是(shì)航空工業開展基(jī)礎研究的主渠道之一,主要(yào)用於開展裝備預研航空工業聯合基金中的基礎研究(jiū)類項目,重點資助對航空技術和武器裝備發展具有應(yīng)用前景或潛在應用前景的(de)基礎研(yán)究和應用(yòng)基礎研究。
“大範(fàn)圍表麵形貌測量白光場掃(sǎo)描(miáo)技(jì)術研(yán)究(jiū)”項目基於(yú)已有的傳統白光幹涉測量裝置,著重(chóng)研究雙角度(dù)白(bái)光傾斜掃描幹涉術、自適(shì)應變速掃描技術和單幅(fú)圖像白光幹涉分析中的關鍵(jiàn)理論問題,建(jiàn)立掃描過程模型,解決掃描過程中表麵數據點的精確追蹤問題,突破傳統垂直白光掃描技術的橫(héng)向測量視(shì)場範(fàn)圍的限製,提高大尺寸表麵形貌的快速測量與重構能力,可解決航空航(háng)天、納米製造等(děng)產業測量中的大範圍、高精度測量需(xū)求(qiú),有(yǒu)利於促進航空科(kē)學技術的發(fā)展和進步。