最近，具有（yǒu）世界領先的顯微分析技術和產品的牛（niú）津儀器納米分析（xī）部宣布AZtecTEM??專配透（tòu）射（shè）電子顯微鏡的能譜軟件正式發行。自從2011年掃描（miáo）電子顯微鏡的Aztec分析係統公（gōng）布後，AZtecTEM早已蓄勢待發，意欲在透射電鏡領（lǐng）域大展拳（quán）腳了。

　　AZtecTEM專門（mén）為TEM工作者提（tí）供了最新的顯（xiǎn）微分析技術平台。該係統可以最大限度的發揮新一代大麵積能譜儀X-Max的優勢，即使計（jì）數率比較低，也可以采集到足夠多的計數，保證能譜分析的（de）準確性。獨一無二的Tru -Q引擎將材料的全麵及細節分（fèn）析提高到新的高度。TEM工作者（zhě）首次（cì）可以利用AZtec's疊加校正得到的TruMap和TruLine，真正準確並實時地（dì）觀察材料（liào）的化學成分變化（huà）。同時（shí），Aztec TEM使用自動預估漂移校正，保證納米尺度樣（yàng）品檢測的準確性。

　　納米分析部的執行董事Ian Barkshire博士談到，“牛津儀器一直居於納米技術的領先地位，我（wǒ）們已開發出多種高精尖分析設備，AztecTEM的（de）推出是三十（shí）多（duō）年來解決並處理全世界眾多TEM問題過程中不斷（duàn）總結（jié）發展的經驗結晶，是全世界TEM工作者（zhě）努力的結果。”