香港科技園完成華為芯(xīn)片可靠性測試 (2005-01-24)
發布時間:2007-12-04
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來源:深圳商報
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1月20日,記(jì)者獲悉深圳和香港兩(liǎng)地IC(集成電路)業的首次企業服務合作項目已結出第一(yī)個碩果,香港科技園公司(香港科技園)成功為深圳(zhèn)華為公司完成“芯片可靠性測試服務”。
據了解,去年香港科技園、香港(gǎng)微晶先(xiān)進封裝(zhuāng)技術有限公司、深圳集(jí)成電路設計創業發(fā)展有限(xiàn)公司和華為在香港簽署(shǔ)了《芯片(piàn)可靠性測試服務(wù)協議》,這是深港兩地集(jí)成電路業首(shǒu)項企業服務協議,標誌深圳與香港全麵整合資源,共同建設集成電路服務體係的開(kāi)始。
華為公司負(fù)責人表示,華為公司最新研發的一套通信類芯片急需進(jìn)行全麵的(de)可靠性(xìng)測試及分析,以保證按照進度量產。但(dàn)這種(zhǒng)芯片規模較大(dà),技術(shù)含量較高,國內目前的設備無法完成此(cǐ)項工(gōng)作。而香港科技園則具備完善的集成(chéng)電路(lù)測試及產品分析設施,因此四方經過協(xié)商,決定將華為該芯晶片在香港科技園(yuán)進行全麵的(de)可靠性測試,作為深港合作的正式啟動項目。