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測維光電成功研發一整套顯微(wēi)鏡測量係統

發布時間:2011-01-10 作者: 來源: 瀏(liú)覽:289846

      2010年測維光電成功研發出一整套顯微測量係統,為我國顯微數碼(mǎ)成(chéng)像(xiàng)行業的發展,盡一份綿薄之力,我(wǒ)們相信測維的明天更美(měi)好!

      全部顯微鏡係統由(yóu)進口件經測維工廠精心組裝而成,其光學品質達到國外同功(gōng)能台式機水平,在(zài)技(jì)術上(shàng)填補了國內這方麵的空缺(quē),又因為是(shì)整係列奉獻所以不用再東拚西湊的組合成套,具有很優越的(de)兼(jiān)容性。工業級檢查顯微鏡具明顯的優(yōu)勢是專門為在線生產量身打造,攻克了目力(lì)觀察的弊端和場地狹小(xiǎo)的限製。提高了生產流水線的技術含量和整合品質。其超值的優越性是不(bú)言而喻(yù)的

      儀器特點:整(zhěng)個顯微鏡係統以影像法為測量原理,采用(yòng)光學焦點(diǎn)位置檢測(cè)方式進行非接觸高低差測(cè)量。不僅可以對準目(mù)標影(yǐng)像,還能觀察測(cè)量點的表麵狀態,對高度,深度,高低(dī)差等進行測量。而(ér)且顯(xiǎn)微鏡的各種鏡筒還具有明暗場,微(wēi)分幹涉,偏光的觀察功能。所以(yǐ)對極細微的(de)間隙高低差,夾雜物(wù)、微米以下的突(tū)起(qǐ)、細微劃痕進行觀察。

      儀器用(yòng)途:此款顯微鏡適用(yòng)於矽片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片測試、半導體材料(liào)、線束加(jiā)工蝕刻、液晶電池蓋、導線框架等產品的檢查觀(guān)察.也適用於經過磨拋、化學處理的工件表麵的金相組織結構(gòu),幾何形狀進行顯微觀測(cè)。並且有三維的計量功(gōng)能,其解析率達0.0005mm。因此是精密零件,集成電路,半導體芯片,光伏電池,光學材料等行業的必用儀器。

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