美國麥奇克有限公（gōng）司（Microtrac Inc.）是世界（jiè）上著名的激光應（yīng）用技術研究和（hé）製造廠商，前身（shēn）為Leeds & Northrup 研究所，近半個世紀以來（lái），一直領先（xiān）著激光（guāng）粒（lì）度分析的前沿技術，可靠的產品和強大的應用支持及完善的售後服務，使得其先進的激光粒度分（fèn）析技術被廣泛地應用於石油，石化，水泥，磨料，冶金，製藥（yào），陶（táo）瓷等領域，並成為眾多行業指（zhǐ）定的質量檢測（cè）和控製的分析（xī）儀器。

      美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在（zài）激光衍射/散射（shè）技術和顆粒表征（zhēng）方（fāng）麵的（de）獨到（dào）見解，經過多年的市場調研（yán）和潛心研究，開發出最新一代Zetatrac微電場分析（xī）技術，融納（nà）米顆粒粒度（dù）分布與Zeta電位測量於一體，無需傳統（tǒng）的比（bǐ）色皿，一次進樣即可得到（dào）準確的粒度分布和Zeta電位分（fèn）析數據。與傳統的Zeta電位分析技（jì）術相比，Zetatrac采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生（shēng）微電場，操作簡單，測量迅速，無需精（jīng）確定位由（yóu）於電泳和電?等效應導（dǎo）致（zhì）的靜（jìng）止層，無需外加大功率電場，無（wú）需（xū）更換分（fèn）別用於測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由於空間位阻（不同光學元器件間的傳輸（shū）損失，比色皿器壁的（de）折射和汙染，比色（sè）皿位置的差異，分散介質（zhì）的影響，顆粒間多重散射等（děng））帶來的光學信（xìn）號的損失，結果準確可（kě）靠，重現性（xìng）好。

      以研究開發見長的美國麥奇克有限（xiàn）公司，幾經（jīng）坎坷，在激烈的市場競爭中（zhōng）始終立（lì）於不敗之地。尤其是在（zài）日本市場，憑借其極（jí）高的性價比，各行業用戶總數高（gāo）達2,500多台，成為日本粉體（tǐ）工業協會的指定品牌。自2004年底進入中國市場以來，作為專業激光粒度分析儀的領（lǐng）航者，采用最先進（jìn）的光散射/衍射（shè）技術，全自動化的設計帶來無與倫比的靈敏（mǐn）度和重複（fù）性，在中國的石油石化，環保控（kòng）製，材料科學，國防軍工，航空航天（tiān），礦物加工等領域享有很高的（de）聲（shēng）望。