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美國光動激光多普勒測量係(xì)統亮相SIMM2008

發布時間:2008-04-25 作者: 來(lái)源(yuán): 瀏覽:657

 
      三月,第九屆中(zhōng)國(深(shēn)圳)國際機(jī)械製造工(gōng)業展覽會在深圳召開,展會吸(xī)引了(le)來自中、美、德、法、意等國內(nèi)外(wài)裝備製造(zào)業的品牌企業參展,包括(kuò)HAAS、HURCO、HARDINGE等。美國(guó)光動公司(Optodyne,Inc.)也參加了此次展(zhǎn)會,展示了它的兩大類型(xíng)激光測量係(xì)統:世界領先的LICS-100型和MCV-5000型(xíng)激(jī)光多普勒測量係統。  

      該公司的產品(pǐn)是在激光多普勒位移儀(LDDM)的專利技(jì)術基礎上發展起(qǐ)來的,由公司創始人王正平博士經(jīng)過三十多年的努力而研發。王博士有效地將最新的激光技術與微電子、計算機、電光以(yǐ)及外差技術結合起來,為用戶創造(zào)出具(jù)有實際工業應用的精密儀器。產品具有結構緊(jǐn)湊、重量輕、安裝(zhuāng)操作方便等優勢。  

      目前,光動進入中國市(shì)場已有八年的(de)時(shí)間了,產品應用於中國的國防、航空航天、軍工、大學和研究院所。光動公司在中國設(shè)立兩家公司:科(kē)望技術谘詢(上海)有限公司,光動(蘇(sū)州)精密儀器有限公司。前者提供MCV-5000型激光多普勒五軸測量校驗係統,用於大型五(wǔ)軸機器;而後者則主要推廣銷售LICS-100型便攜式激(jī)光(guāng)多普勒測量係統及其相關服務(wù)。  

    MCV-5000型激光多普勒五(wǔ)軸測量校驗(yàn)係(xì)統  

      傳統(tǒng)的幹涉(shè)儀隻能(néng)測量一維,而且體積龐大,測量時間長。而美國光動的三維測量技術是機床工業激光測量技術的新突破。該種測(cè)量方法在美國已獲專利,它應用長方形平麵鏡(jìng)做靶標,測量四根分(fèn)軸步進對角線(xiàn);能夠分離出機床的(de)十二項誤差,即3項位移誤(wù)差、6項直線度誤差及3項垂直(zhí)度誤(wù)差;並且可產生(shēng)補償文件進行補償,補(bǔ)償之後的對角線的定位精度可以提高3至10倍;測量操作簡單,大大縮短了測量時間。日本Mitsutoyo、YASDA等知名機床製造商已經采用了MCV-5000型激光多普(pǔ)勒五軸測量校驗係統,極大提高了校驗時的工作效率。  

    LICS係列便(biàn)攜式雙頻多普勒測量係(xì)統(tǒng)  

      LICS係列便攜式雙頻多普勒測量係統是光動公司針對中國市場推出的一維測(cè)量產品。除繼(jì)承了光動公司激光幹涉儀(yí)的精度高、使用方便、結構(gòu)緊湊小巧等特點外,安裝和對(duì)準也非常容易,隻需要幾分鍾就可以完成。它還具有超強的性價比。  

      該係統通過USB接口與計算機連接。而且係統軟件采用直觀的中文界麵,提供手動和自動兩種測量方式。隻需要(yào)根據不同的要求選擇(zé)合(hé)適的標準,係統會自動按照相關標準進行數據采集和分析(xī)。係統可(kě)以數據表或數據圖顯示測量結果。  

      此外,自動(dòng)產生補償文件是ILCS的功能之一,該激(jī)光測量係統可與Mazak、Fanuc、Siemens等許多數控係統兼容,根據(jù)測量的線性誤差數據,係統可以自動(dòng)產生與控製器(qì)兼容的補償(cháng)程序並上載到控(kòng)製器,對機床等設備進行補償校準。  

      王正平先生相信(xìn),世界領先的技術和穩定可靠的產品加(jiā)上完善的(de)服務,不斷創新(xīn)的光動人(rén)一定會為(wéi)中國和世界的製造工業(yè)不斷增色。  
 

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