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牛(niú)津儀器新品元素分析及鍍層測厚儀(yí)首發

發布時間:2008-04-09 作者: 來源: 瀏覽(lǎn):777

      2008年1月24日,牛(niú)津儀器公司在(zài)上海南新雅華美達大酒店召開亞洲區新產品發布會,發布了新產品:X-Strata980。這款最新研發的產(chǎn)品X-Strata980運用X熒光原理實現(xiàn)痕量元素分析及鍍層厚度測量,結合大功率X射線光(guāng)管和高分辨率探測(cè)器,檢測下限達到PPM精度,並具有超強的分析模型。牛津儀器新(xīn)產品研發中心總監Dr.AndyEllis表示,這款新產品的發布標(biāo)誌著牛津儀器已經成為全球唯一的能提供包括便攜式、台式(微聚(jù)焦、塊狀分析)XRF分析儀器(qì)的供應商(shāng),能夠為客戶提供針對RoHS篩選的完(wán)整解決方案。
    隨後牛津儀器將陸(lù)續在以(yǐ)下活動中推廣這(zhè)款新產品:

    SMT/PCB & Nepcon Korea-Feb20-22

    CPCA上海-Mar18-20

    IPC/APEX Las Vegas-April1-3

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