２００７年９月１７日下午三時，由中國儀器儀表學會、中國分析測試協會組織的對上海光譜儀器有限公司研製的“ＳＰ－３８００係列高性能自吸（xī）收背景（jǐng）校正原子吸收光譜儀”的新產品專家鑒定會在上海光譜（pǔ）公司總（zǒng）部（bù）舉行。出（chū）席本次鑒定會的專家有上海理工大學莊鬆林院士、中國分析儀器學會（huì）名譽理事長朱良漪（yī）教授（shòu）、中國分析儀器（qì）學會副理事長閆成德研究員、中國農（nóng）科院蔣士強研究員、複旦大（dà）學邱德仁教授、上海市計算技術研究所王誌宏研（yán）究員、中國地質實驗中心楊嘯濤研究員等。莊（zhuāng）鬆林院士主持了本（běn）次新產品鑒定會。
　　會議伊始，首先由上海光譜儀器有限公司的劉瑤函高工與劉誌高工程師分別向與會專（zhuān）家介紹了此次項目的研製情況以及所取得的（de）主要研發成果。１９７８年劉瑤函高工首次在世界上提出了自吸收背景校正方法，而在２９年之後，劉瑤函（hán）高（gāo）工又與上海光譜公司通力合作，將這一沉寂多年的技術推上了一（yī）個全新（xīn）的高度。

　　眾所周知，自吸收式背景校正（zhèng）技術成本低廉，適合我國國情，但由（yóu）於該技術本身所存在的一（yī）些缺陷，長期以來一直未能得到很好的推廣應用。針對（duì）這一現狀，項目組在劉瑤函高工的帶領下進行了（le）大量的基礎性研究，目前已取得了豐碩的成（chéng）果。

　　他們通過技術（shù）革新並（bìng）通過大量實驗，摸索出一套信息處（chù）理，光學降噪、間隙控燈、“汞燈－試劑”梯度測量等獨創或首創的專有技術（已經申請發明專利），使氘燈和元素燈自吸效應雙背景校正（zhèng）技術達到和超過國（guó）際同（tóng）類產（chǎn）品性能水平；在當前（qián）大多數人們所關心的元素分析的能力上，可與塞曼背景校正相媲美！

　　而在上述研究成（chéng）果的基礎上（shàng），上海光譜公司成功開發出了具有國（guó）際（jì）先進水平（píng）的ＳＰ－３８００係列高性能（néng）自吸（xī）收背（bèi）景校正原（yuán）子吸收光譜儀。

　　鑒定會上，鑒定委員會的（de）專家們認真聽取了項目完成單位所作（zuò）的研製報（bào）告、測試報告（gào）、查新報告、專家測評報（bào）告和用戶使用報告，並審查了有關技術資料，參觀了儀器及現場演示，通過質詢、答疑和認真討論，專（zhuān）家們一致（zhì）認為該項目研究的自吸收背景校（xiào）正的核心技術，具有完全自主的知識產權。所研製（zhì）的儀器在國內處（chù）於領先，並達到國際先進水平，因（yīn）此建議盡快推廣使（shǐ）用，並列入國家自主創新產品。