安捷倫科（kē）技公司日前（qián）宣布，推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測試功能組成的套件，其中包括新的NPM測量技術（shù）。

      這一測試功能包括NPM測量技術。用戶可（kě）以檢測連接器上（shàng）電源管腳和接地（dì）管腳中的開路。

      安捷倫VTEP v2.0是為幫助製造（zào）商檢測這（zhè）些（xiē）關鍵缺陷而設（shè）計的，功能測試和產（chǎn）品發售中可能（néng）檢測不到這些缺陷，在後期可能會給製造商帶來更高的成本。

      此外，通過VTEP v2.0，用戶可以獲（huò）原有得（dé）VTEP技術的優（yōu）勢（shì），如更高的靈敏度（dù），更有效地降低噪聲；同時獲得（dé）iVTEP的優勢，該技術麵（miàn）向采用最小引線框或不帶引（yǐn）線框的超小型集成電路封裝。iVTEP還適用於帶有（yǒu）散熱片的設備及帶有附加散熱器的器件。

      VTEP v2.0采（cǎi）用與原有VTEP相（xiàng）同的硬（yìng）件，因此不要求進行硬件升級。