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安捷倫研討(tǎo)會力推(tuī)納米技術與測量方案

發布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:1369

      安捷倫科技近日宣布,將於2007年3月13日(rì)和15日分別在上海(hǎi)和北京,舉辦安捷倫首(shǒu)屆納米技術與測(cè)量解決(jué)方案(àn)研討會。本次研討會作為安捷倫在全球範圍內為納米技術研究人員介紹測量(liàng)產品的一個重要組成部分(fèn),將吸引來自國家、省(部)、市、校、所的各級實驗室,從事納米技術研究的科學家、學者、工程師(shī)以及涉及納米技術領(lǐng)域的專家、教授、學生和相關工作人員的廣泛參與。

      隨著納米測量工具的不斷增(zēng)加,擴大了從生命科學、化學到電子學領域對納米測量產品的需(xū)求,例如,原子力顯微鏡(AFM)、參數測試儀、納伏表、化學分析儀以及微陣列等。如今,納米技術已是很多安捷倫(Agilent)客戶從(cóng)事的工作中心。因(yīn)此,它也是安捷倫的業務中心。納米(mǐ)技術領域的研(yán)究人員希望了解最新納米係列(liè)設備的化學含義、物理尺寸(cùn)和外型以及電學性質。這些(xiē)設備的測量雖然要求極為精確但其測量方法(fǎ)卻對操作者的要求較低,而這正(zhèng)是(shì)長期以來安捷倫的專長。

      安捷倫原子力顯微鏡、半導體器件分析儀、阻抗分析儀、材料(liào)分析儀、脈衝發生器和其它通用儀器的專家們,將在會(huì)議現場進行測量儀器的演示(shì)。研討會設(shè)有七大主題,分別是“安捷倫在納米技術(shù)中的貢(gòng)獻”

     “多用途的掃描探針顯微鏡”、“碳管場效應(yīng)晶體管的納米探測和評估”、“納米器件的阻抗測量”、“納米技術中的材料分析”、“使用(yòng)脈衝發生(shēng)器檢定納米器件”和“用於納米(mǐ)技術研究的通用儀器(qì)”,可使納米(mǐ)技術研究人員實現研(yán)發與不斷(duàn)創新。

      安捷倫廣泛的測試測量產品係列和解決方案(àn),致力於幫助研究人員在電學、化學、生物學、分子學、原子等方麵在納米尺度上進行成像、操縱和檢測。本次研討會,將會幫助與會者充(chōng)分地了解安捷(jié)倫納米技術測量解(jiě)決方案在未來的發展方向,提升在納(nà)米技術領域的科研,教學(xué)及(jí)市場各方麵的競爭力。

 

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