2005年(nián)上海地區分析測試技(jì)術研討會3月15日(rì)召開 (2005-03-04)
發布時間:2007-12-04
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由中國(guó)上海測試中心、上海市計量測試技(jì)術研究院、上海市分析測試協(xié)會共(gòng)同舉辦的(de)“2005年上海地區分(fèn)析測試技術研討會”定(dìng)於2005年3月15日(rì)(星期二)在上海市計量 測試技術研(yán)究院二樓學術報告大廳(tīng)舉行。
中國科學院博(bó)士生導師、中國分(fèn)析儀(yí)器學會副(fù)理事長、中國光學儀器學會副主任、中國國(guó)家質量(liàng)技術監督局國家級計量認證評審員、《光學儀器》副主編、《生命科學儀器(qì)》副主編:李 昌 厚 教授主講。同時(shí)還有中(zhōng)科院其(qí)他(tā)分析儀器專家(jiā)到場與大家交流。 日 程 安 排
1. 國內、國外原子吸(xī)收分光光度計的應用和最(zuì)新進展
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5. 普析通用公司產品介紹
6. 國內、國外(wài)紫外(wài)分光光度計的應用和最(zuì)新進展
7. 紫外主要技術(shù)指標的(de)物理意義、重要性、測試方法
8. 如何評價(挑選)紫外可見分光光度計
9. 如何用好紫外可見分光(guāng)光度計的幾個關鍵問題
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