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掃描電子顯微鏡及X-射線能譜儀(yí)投入使用 (2004-09-06)

發布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:1986
安鋼廣大科技工作者期盼已久的掃描電子顯微(wēi)鏡和Ⅹ-射線能譜儀,於今年6月份在技術中心試(shì)驗(yàn)室一次安裝調試成功後,現已順利通過了(le)考核驗收並投入(rù)正常使用。 掃描電子(zǐ)顯微鏡是應用於材料(liào)分析科學的一種最先進的電子光學儀器(qì),它具有製樣簡單、放大倍(bèi)率連續(xù)可調、景深大、襯(chèn)度高、高清晰度掃描圖(tú)像等優點,已成(chéng)為材(cái)料科學研究所不可缺少的一種高性能儀器。它利用入射電子束與試樣作用產生的各種(zhǒng)電子信號並結合X-射線能譜儀,可以對各種材料進行形貌組織(zhī)觀察和微區成分分析、金屬材料斷口分析(xī)和失效分析等。 我公司從(cóng)荷蘭(lán)菲利浦公司購(gòu)進的Quanta200掃描電子顯(xiǎn)微鏡和從(cóng)英國牛津(jīn)公司購進的INCAX-射線能譜儀,具有啟動快、大樣品室、高分辨率、高放大倍數、高(gāo)低真空和環(huán)境真空成像模式等性能。兩台顯微分析儀器的順利投入使用,必將成為公司在品種開發、工藝(yì)研究和質(zhì)量攻關等科研活動中不可缺少的工具。
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