測量完此類葉片(含裝夾,建基準,出報告)單片大約需要15分鍾。
為此我們為客戶(hù)提(tí)供了非接觸式白光測量解決方案(CORE-DS)
➣ 首先測量效率高:掃描速度(dù)高達100mm/s以該型葉片為例,白光測量僅需6分40秒(含裝夾,建基準,出報告)。
➣ 測頭校正時間短,測頭一次(cì)校正,所有的角度都可以使用。
➣ 不存在掃描測頭加速和減速時的不穩定性
➣ 沒有餘弦誤差,光點(diǎn)直徑僅為35um,直接測得截麵(miàn)實際值(zhí),不存在(zài)測球半徑補償。
餘弦誤差示意圖(tú):接(jiē)觸式接觸的是圖中的7點,測(cè)頭補償(4)後得到實測點3和4的交點,而白(bái)光直接測得就是圖示6點。所以不存在3餘(yú)弦誤差(cosine error)
➣ 無需輔(fǔ)助定位夾具,所有基準元素均(jun1)為直接測量(liàng),提高了坐標係的精度。
➣ 六點預定位,使掃描更加準確。在掃描葉型前(qián),會預先在葉盆,葉背(bèi),前尾圓采6點,然後根據實際的葉型狀(zhuàng)況,來調整葉型的掃描路徑(平移、旋轉,甚至縮緊或者擴張)。
➣ 自動(dòng)根據曲率(lǜ)變(biàn)化來分布控(kòng)製點的疏(shū)密。(前尾圓加(jiā)密,盆背稀疏)
➣ 多種(zhǒng)類型的報告可供客戶選擇
另外,客戶根據自己的實際需求定製自己喜歡的(de)報告樣式。
➣ 一鍵式測量(liàng)界麵
OPEN_DMIS的Xecute 界麵模式是我們專門(mén)為操(cāo)作者而開(kāi)發的。用戶隻需點擊(jī)對應被測零件(jiàn)的圖標,程序即(jí)可自動運行,全程看不到程序(xù)代碼(mǎ),保(bǎo)障了程序的安全和測量的高(gāo)效。
為(wéi)了進一步提高客戶運行程序的(de)效率,我們將輸入工件名稱,爐號,工(gōng)件號這些(xiē)在程序運行中必須輸入的信息移動到了運行程序(xù)外麵,客戶可以把下一片即將測量的號碼預先寫入到一個TXT內(nèi),程序運行時自動調取。節省了機器的(de)等待時間,此項為客戶節省約10S。
為客盡可能(néng)節省時間,提高效率,是我們不斷追求的目標……