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一級注冊計量師考試專業務實知識點:納米計量技術及分子測量機

發布時間:2012-02-10 作者:佚名 來源:本站整理 瀏覽:2455

  納米(mǐ)計量技術及分子測量機

  隨著科技的發展,微電子學、材料學、精密(mì)機械學、生命科學和生物學的研究已深入到原子領域。為適應這一發展,迫切需要(yào)具有計量意(yì)義的納米、亞納米精(jīng)度測量係統,因此,從上世紀八(bā)十年代開始,逐(zhú)步(bù)誕生了(le)一(yī)門嶄新(xīn)的學科――納米計量學。

  1982年,IBM蘇黎世研究實驗室的德國物理學家賓(bīn)尼希和瑞士物(wù)理學家羅雷(léi)爾設計了世界上第一台掃描隧道顯微鏡(STM),並於1986年獲得諾貝爾物(wù)理學獎。STM的(de)原理利用了物理學上的隧道(dào)效應及隧道電流,它(tā)用一個極細的探針(針尖為單個原子)接近(jìn)試件(jiàn)表麵,並在探針與試件之間施加偏(piān)壓,當兩者接近到納米級距離時即產生隧道電流,其大小與距離(lí)成反比。STM在計量中有兩種應用方法:一種是通過反饋保持隧道電(diàn)流為定值,用於檢測試件表麵形貌;另一種是通過測量隧道電流的大小來表征探針與試件間的距離。

  繼掃(sǎo)描隧道(dào)顯微鏡之(zhī)後(hòu),相(xiàng)繼出現了一係列測量尺度可達到原子量級的檢測技術與儀器,如(rú)原子力顯微鏡(AFM)、掃描近場光學顯微鏡(SNOM)、光子掃描隧道(dào)顯微鏡(PSTM)等(děng)。這些先進技術的應用,使人類有史以來第一次能夠觀察到單個原(yuán)子在物質表麵的排列狀態,並成功(gōng)實現了原子搬遷。

  但是,這些儀器隻是“觀(guān)察”到分(fèn)子(zǐ)的內(nèi)部結(jié)構,沒有(yǒu)量的概念。在計量學實際應用中(zhōng),還必須解決溯源問題,建立計量標準,即需要提(tí)供一種可溯源的、具有納米(mǐ)量級精度的長度測量手段。上世紀九十年(nián)代以來,各國(guó)科學家對(duì)此進行了大量研究。中國計量科學研究院與德國PDB合作研製了可自校準和實現絕對測量的原子力顯微鏡、差拍F-B幹涉儀等,解決了單維尺寸的溯源和測量問題。1994年美國NIST研製成功第一台三維(wéi)分子測量機(MolecularMeasuringMachine),它實際是一(yī)台超高精度的三坐標測量機,測量範圍為50mm50mm12mm,空間(jiān)測量(liàng)不確定度為1nm。該測量機采用能夠溯源的超高分辨率外差激光幹(gàn)涉儀作為測量係統,幹涉儀(yí)采用光學8倍頻和相位100細分,使分(fèn)辨率達到0.075nm。分子測量機的探針分為兩種:低分辨率測量時采用共焦光學顯微鏡;高分辨率測量時采用隧道顯微鏡(jìng)或原子力(lì)顯微鏡。

  分子測量機不但解決了計(jì)量溯源問題,實現了真正意義的納米測量,而且能夠操作一簇分(fèn)子和原子(甚至單個原子),可應用於微型機(jī)械、納米管、納米(mǐ)材料處理等(děng)技術領(lǐng)域,是納米科技研究和應用不可缺少的重要手段。

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