我國引進的第一台（tái）NanoSIMS 50L型納米離子探針驗收（shōu）會於近日在中國科學院地質於地球（qiú）物理研究所（suǒ）召開。中國科學院地質於地球物理研究所副所長（zhǎng）吳福元研究員（yuán）為組長的專家組認真（zhēn）聽取了法國CAMECA公司納米離（lí）子探針設計師、Fran?ois Hillion博士所作的驗收報告。專家組對儀器的驗收指標（biāo）有關問題進行了提問，一致認為該儀器的技術參數（shù）不僅（jǐn）全部達到合同要求，大部分還優於合同要求的驗收指標。

　　納（nà）米離子探針具有極高的空間分辨率(Cs+源束斑小於 50nm，O-源束（shù）斑小於（yú）200nm)，與我所已有的CAMECA ims 1280高精度離子探針互補，構成（chéng）國際上（shàng）非常先進的的離子探針分析平台。新引進的NanoSIMS 50L型納米離（lí）子探（tàn）針配置了7個信號（hào）檢測器(每個配置法拉第（dì）杯和電子倍（bèi）增器)，可以同時測量7個同位素(或元素)，分析精度好於千分之一。該儀器可以分析除稀有氣體以外，元素周期表（biǎo）中從H至U的全部同位素(元素)，並能獲取同位素分布的高分辨圖像。納米離子探針的引進，為我國比較行星學（xué）、地球科學、材料科學、以及生命科學（xué）等領域提供了新的大（dà）型實驗分析平台。