美國加州大學洛杉磯分校（xiào）17日表示，該校納米係（xì）統（tǒng）科學主任保羅?維斯領導的研究小組開發出了（le）研究納米級材料相互作用的工具??雙掃描隧道顯微和微波頻率探針，可用於測量單（dān）個分（fèn）子和（hé）接觸基片表（biǎo）麵的（de）相互作用。
　　過（guò）去（qù）50年中，電子工業界努力遵循著摩爾（ěr）定律：每兩年集成電路（lù）上晶體管的尺寸將縮小大約50%。隨著電子產品尺寸（cùn）的不（bú）斷縮小（xiǎo），目前已到了需要製作納米級晶體管（guǎn）才能繼續保持摩爾定律正確性的地步。

　　由於納米級（jí）材料（liào）和大尺寸（cùn）材料所展現的（de）特性存在差異，因此（cǐ）人們需要開發新的技術來探索和認識納米級材料的新特征。然而，研究人（rén）員在研發納米（mǐ）級電子元器件方麵遇（yù）到的障（zhàng）礙是，人（rén）們沒有相應的能力去觀察（chá）如此小尺（chǐ）寸材料的特性。

　　元器（qì）件間的連接是納米級電子產品至關重要的部分。就分子設（shè）備而言，分子極化性測量的範（fàn）圍涉及到（dào）電子與單個分子接觸的相互作用。極化性測量有兩個重要方麵，它們分別是接觸表麵（miàn）以次納米分辨率精（jīng）度進行測量的能力，以及認識和控製分子開關兩個狀態的能力。

　　為測量單個分子的極化性，研（yán）究小組研發出能夠同時（shí）進（jìn）行掃描（miáo）隧道顯微鏡測量和微波異頻（pín）測（cè）量（liàng）的探針。借助探針的微波（bō）異頻測探，研究人員將能確（què）定單個分子開關在基（jī）片上的位置，即使開關處於“關”的狀態也不例外。在開關定（dìng）位後，研究（jiū）人員便可利用掃描隧道顯微鏡變換開關的狀態，並測量每個狀態下單分子和基片之間的相互（hù）作用。

　　維斯（sī）說（shuō），新開發的探針能夠獲取單分子和基（jī）片（piàn）之間物理、化學和電子相互作用以及相互接觸（chù）的數據。維（wéi）斯同時還是著名的化學和（hé）生（shēng）化以及材料科學和工程（chéng）教授。參與（yǔ）研究工作的還有美國西北大學的理論化學家馬（mǎ）克?瑞特奈和萊斯大學（xué）合成化學（xué）家（jiā）詹姆（mǔ）斯?圖爾。

　　據悉，研究小組新的測量探（tàn）針所提（tí）供的信息集中在電子產品的極限範圍，而不是針對要生產的產品。此外，由於探針有能力提（tí）供多參數的測量，它（tā）有（yǒu）可能被研究人員用（yòng）來鑒定複雜生物分（fèn）子的子分子結構。