近日，日本物（wù）質材料研究機構的研究人員開發出一種新型（xíng）電子源，有望使電子顯微鏡的識別（bié）和測（cè）定能力得到飛躍式提高。

　　據（jù）介紹，開發出這種新型電（diàn）子源的是日本（běn）物質材料機（jī）構的（de）兩名華人科學家，一次元材料組組長（zhǎng）唐捷和研究員張（zhāng）涵(音譯)。為了大幅度提高電子顯微鏡的性能（néng），他們重點進（jìn）行了新（xīn）型電子源的開發，同時在電子放射（shè）方法方麵也進行了創新（xīn）。

　　目前，電子（zǐ）顯微鏡普遍使用金屬（shǔ）元素鎢作為電子源，而化合物六硼化鑭(LaB6)作為（wéi）電子源雖然在性能上超過鎢（wū），但其硬（yìng）度超過（guò）鎢一（yī）倍以上，如果沒有合適的加工方法很難實現應（yīng）用。此次研究人員使用了（le）一種叫化學氣相堆積（jī）法的方法，首先製成了單結晶（jīng）的六硼化鑭納米（mǐ）線，然後使用電界蒸發的方式除去了（le）納米線表麵的不純物質（zhì），從而成功開發出了（le）新型電子源。與以往通過高溫加熱熱源，使之放射出熱電子的方式相比，新型電（diàn）子源采用的是以極高的亮度放射出超細電子束的（de）電界放射方（fāng）式。

　　在電子（zǐ）顯微鏡技術領（lǐng）域，日本過去一直領先世界，透過式電子顯微鏡和掃描式電子顯微鏡也一直是日本重要的技術出口產品，但目前在（zài）該領域日本已經被美國和德國超（chāo）越。研究人（rén）員稱，前段時間日本已經開發出新（xīn）型高性能鏡頭，如果配上（shàng）此次開發成功的六硼化鑭單結晶納米線電界（jiè）放射型電子源，將有望使日本重新奪回透（tòu）過式電（diàn）子顯微鏡世界領先地位。