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McCrometer推(tuī)出Wafer-Cone流量計

發布時(shí)間:2008-05-15 作者(zhě): 來源: 瀏覽:842

      生產現場(chǎng)、過(guò)程控製與工(gōng)廠工程師人員(yuán)發現(xiàn)McCrometer公司推出高度靈活的Wafer-Cone流量計,該(gāi)產品具有模塊化設計功能特點,使其很容易且經濟的根據(jù)動態流體狀況(kuàng)來(lái)替換相應流量計元件。

      這種(zhǒng)獨特的Wafer-Cone流量計依靠具(jù)有內(nèi)置流體狀況監測的差分壓(yā)力技術,可用來獲得±0.5%的精(jīng)度,且重複測試結果達到±0.1%的誤差。該款(kuǎn)產品設計上適用於液體或氣體的監測,且(qiě)監測占空間尺寸為0.5到6英寸之間,這使其對於包括從(cóng)天然(rán)氣(qì)氣井、小型過程生產線到許多工業基礎(chǔ)設施的各種領域來說是完美。

      通過采用(yòng)自調整流動狀況,該Wafer-Cone流量計真(zhēn)正的節省空間。它消除了其它類似DP技術測試中需要大量流量(liàng)直管(guǎn)的需要,比如銳(ruì)孔板和文丘裏管等。這能安裝到管道係統的幾乎任何(hé)部位(wèi),且很容易適用於現有的(de)管道布置改造(zào),並為現(xiàn)場安裝帶來很好的靈活性,進(jìn)而節省成本。

 

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