新興測量需求解決方案的領導者（zhě）吉時利儀器公司(NYSE:KEI)，在（zài）2007年9月17日發布（bù）了其2600係SourceMeter?數字源（yuán）表的兩（liǎng）款新產品2635和2636，自此形成業界技術最先（xiān）進、效費比最高的半（bàn）導體參數分析與測試解決方案（àn）。2635和2636采用最新特殊參（cān）數分析技術，實現了高達lfa(10-15安)的測量分辨率，從而滿足了很多（duō）半導體、光電和納米器件的測試需求。此外，其基於儀器的多通道架構相比普（pǔ）通的基於主機的（de）源測量方案降低了50%的成（chéng）本。通過其測（cè）試腳本（běn）處理器(TSPTM)和TSP-LinkTM互連通信總線，測試工程師可利用2636和2635快速構建（jiàn）用於技術（shù）研究、特征分析、圓片分揀、可靠性測試、牛產監測（cè）等多種測試應用場合的高速測試係統。
　　2635和（hé）2636能夠實現從飛安和微伏量級到200V／1.5A範圍的高效費比直（zhí）流和脈衝測試。它們可以配合PC機或獨立工（gōng）作，測（cè）試速度比普通基於主機的源測量方案快四（sì）倍（bèi）。此外，每種儀器內置1個類似於PC的微處（chù）理器（qì），支持各種簡單或複雜的測試程序(腳本)的編程與（yǔ）獨立執行，包括提供信號源、測量、測試（shì）序列（liè）流程控製以及帶條件程序分支的判斷操作等。2635和2636極易與其他儀器集成構成自動測試（shì）係統，因此對於從事圓片級測試和封裝（zhuāng）器件（jiàn）測試工作的元件製造商和半導體廠商都極具（jù）吸引力（lì）。同時，對（duì）於需要快速（sù）、方便地進行器件與（yǔ）材料I-V特征分析的各領域研究人員和學者而言，其低成本優勢十分誘人。