日本開發出體積小工作速度高的新型分光光度計 (2006-05-24)
發布時(shí)間(jiān):2007-12-04
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NTT日前宣布開發(fā)成功了與過去常用(yòng)的控製光線方向的光度計相比,無論是小型(xíng)化還是工作速度均提高2位數的高性能分光光度計(光束掃描儀)。除光通信領域(yù)外,預計還可應用於影像設備和打印機等(děng)領域。
新的光度計使用了一種(zhǒng)稱為“KTN”、折(shé)射(shè)率可根據施加電壓而(ér)變化的“電化學結晶(jīng)”。除該公司2003年開發的(de)KTN結晶穩(wěn)定生長技術外,向該結晶注入電流後,先前相同的折射率分布將朝著注入(rù)方向變化這一性質的發現成就了此次的(de)開發。
利用此性(xìng)質製作的掃描元件盡管(guǎn)長度隻有6mm,但掃描(miáo)角度超過了10度,而且工作頻率(lǜ)達到約800kHz。與過去使用可動鏡片的光度計相(xiàng)比,體積隻有1/100,工作頻(pín)率更是高達100倍以上。
利用可動鏡片型掃描元件高速工作的光度計過去就曾利用MEMS和聲化學結晶及電化學結(jié)晶等進行開發。但過去的技術在掃描角度和工作頻率(lǜ)之間存在(zài)著顧此失彼的關係。因此,難以實現可(kě)高(gāo)速工作、同時又具有大掃描角度的掃描元件。
比(bǐ)如,過(guò)去工作速度(dù)最快(kuài)的采用電化學結晶的光度計(jì)掃描角度很小,要想(xiǎng)得到1度的掃描角度,必須施加+1萬V的高電壓。此(cǐ)次的光度計在相同尺(chǐ)寸和施加(jiā)電(diàn)壓條件下與老式電化學結晶型(xíng)光度計相比,掃描角度達到了80倍。