美國FEI公司日前成（chéng）功開發出（chū）了（le）分（fèn）辨率（lǜ）高達0.07nm的電子顯微鏡（jìng）“Titan 80-300”。從分（fèn）辨率來講，作為TEM（透（tòu）射電子顯（xiǎn）微鏡）使用時（shí）為（wéi）0.07nm，用作STEM（掃描透射（shè）電子顯微鏡（jìng））時為0.1nm。 FEI總裁兼首席執（zhí）行官Vahe Sarkissian表（biǎo）示，該產品在目前市（shì）場上銷售的電子顯微鏡中實現了全球最高的分辨率。過（guò）去的電子顯微鏡（jìng）不一定對提高分（fèn）辨率的像差補償技術進行優化。但此次則引進了與像差補償技術相適（shì）應的（de）設計，這一點在市售產品中也是第一次嚐試。該產品（pǐn）將於8月在美國檀香山召開的“2005年（nián）顯微術與顯微分析技術會（huì）議（2005 Microscopy and Microanalysis meeting）”上首次展出並正式上市。