吉時利儀器公司 （NYSE:KEI）是為不斷增長的測量需求提供解決方案的領導者，今日發布了美（měi）國（guó）AMD公司（NYSE：AMD）選用吉時利（Keithley）公司製造的S680型直流/射頻 (DC/RF)半導體 參數自動測試係（xì）統，以支持AMD公司位於（yú）德國德（dé）累斯頓市技（jì）術發展水平最高的300mm Fab 36公司的先進邏輯芯片（piàn）的全部生產。 S680直流/射頻 (DC/RF) DC/RF係統（tǒng）的優點包括先進的測（cè）量能力、更較低的所有權保有成本、較高很（hěn）高的（de）信息通過產量以及較強有力的本地區服務和技術（shù）支持。 “AMD公司選用吉時利（lì）S680型參數測試係統表明說明該係統已成功成為在半導體芯片大批量製造時（shí）過程中進行過程控製的重要設備，提供（gòng）晶圓（yuán）圓片級電氣測量可選用（yòng）的參數測試儀良好選擇。”吉時利公司商業務發（fā）展部副（fù）總（zǒng）經理總裁Mark Hoersten先（xiān）生說，“無論是高性能邏輯電路製造商，還是高性能模擬集成電路（lù）製造商，都（dōu）逐漸轉而要求吉時（shí）利公司為他（tā）們正（zhèng）在（zài）其最先進的實（shí）驗（yàn）室中進行（háng）的（de）下（xià）一代半導體工藝提供應電氣參數測試儀機台。 這些工藝（yì）包括目前正在部署的90nm工藝和65nm工藝，連同他們正（zhèng）在使用的工藝，這（zhè）將有助於開發行業內最尖端的（de）45nm工藝。” 吉時利公司的S680型直（zhí）流/射頻 (DC/RF)參數 DC/RF測試係統儀於2003年首次推向市場，專為無線通訊和高速數（shù）字器件的晶（jīng）圓圓（yuán）片級參數測試而設計。 該測試機台儀通過將兩個決定（dìng）關鍵性的測試功能――DC和RF測試功能綜合到一個測試序列中，集成到單個（gè）係統中從而大大提（tí）高（gāo）了總的（de）信息（xī）通過測試產（chǎn）量，因為DC和RF測試功能可綜合到相同的測試（shì）序列中。 該集（jí）成方法刪去排除了較長的校準定標和測試時間，也無需單獨、昂貴的且僅用於RF的探針台而這在獨立的RF測試（shì）解決方案中則是（shì）具有代表性的（de）一段時間具有代表性（xìng）。 該方法也無需獨（dú）立的、而昂貴的、且僅RF測試才使用（yòng）的且僅用於RF的探測器。 另外，再加上此外，吉時利公司半導（dǎo）體參數測試係統獨有的並行測試等能力也可使得IC製造商能將其測試成本降到最低。