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深圳市計量質量檢測(cè)研究院舉辦電子產品可靠性(xìng)測試(shì)研討會 (2006-05-17)

發布時間:2007-12-04 作者(zhě): 來源: 瀏覽:870
4月26日(rì)至27日,深圳市計量質量檢(jiǎn)測研究院聯合美國QUANTA測試公司舉辦了“電子產品可靠(kào)性測試”研討會,來自微軟亞洲、富士康、華為、中興、TCL、邁瑞等知名企業的100多名電子電器行業(yè)企業代表參加了研討會。 研討會邀請了(le)美國QUANTA測試公司總裁(cái)、可靠性測試方(fāng)麵的權威劉杭生博士作為主講,劉博士針就環境測試的製定標準、環境測試(shì)的收益、內部測試實驗室的優(yōu)缺點及降低費用(yòng)的方法、可靠性測試方法等內容做(zuò)了詳盡的講解。會上(shàng),專家(jiā)作了現場解答疑(yí),並與企業代表進行良(liáng)好的互動溝通,現(xiàn)場氣氛十分熱烈。參會代表(biǎo)紛紛表示,舉(jǔ)辦這樣的研討會意義重大(dà),不僅為企業提供一些改進質量的方法,提升企業質量管理水(shuǐ)平,也為電子(zǐ)行業創造一個交流新資訊的平台,希望能夠多(duō)舉辦一些類似的活動。
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